Lucky Dragon Technology เซินเจิ้น จำกัด
+86-755-23074100
ติดต่อเรา
  • โทร:+8618948705000
  • อีเมล:sales@Ldtac.com
  • เพิ่ม: ชั้น 5 อาคาร 1 สวนอุตสาหกรรม Jinshan 375 ส่วน Xixiang ถนน Guangshen ถนน Xixiang เขต Baoan เมืองเซินเจิ้น มณฑลกวางตุ้ง จีน
การออกแบบบอร์ดทดสอบแหล่งคริสตัลดั้งเดิมของ IC
video

การออกแบบบอร์ดทดสอบแหล่งคริสตัลดั้งเดิมของ IC

การออกแบบบอร์ดทดสอบแหล่งคริสตัลดั้งเดิมของ IC เป็นแพลตฟอร์ม PCB ทดสอบการทำงานที่มีความแม่นยำสูง- ซึ่งใช้สำหรับการสร้างสัญญาณคริสตัล การตรวจสอบความถี่ และการทดสอบแหล่งสัญญาณนาฬิกาของ IC ออกแบบมาเพื่อประเมินความเสถียรและความแม่นยำของความถี่ของคริสตัลออสซิลเลเตอร์เป็นหลักภายใต้สภาวะโหลด แรงดันไฟฟ้า และอุณหภูมิที่แตกต่างกัน

ส่งคำถาม
  • คำอธิบาย

    ภาพรวมผลิตภัณฑ์

     

    การออกแบบบอร์ดทดสอบแหล่งคริสตัลดั้งเดิมของ IC เป็นแพลตฟอร์ม PCB ทดสอบการทำงานที่มีความแม่นยำสูง- ซึ่งใช้สำหรับการสร้างสัญญาณคริสตัล การตรวจสอบความถี่ และการทดสอบแหล่งสัญญาณนาฬิกาของ IC ออกแบบมาเพื่อประเมินความเสถียรและความแม่นยำของความถี่ของคริสตัลออสซิลเลเตอร์เป็นหลักภายใต้สภาวะโหลด แรงดันไฟฟ้า และอุณหภูมิที่แตกต่างกัน

    โดยทั่วไปบอร์ดทดสอบจะรวมวงจรคริสตัลออสซิลเลเตอร์ เครือข่ายตัวเก็บประจุโหลด วงจรบัฟเฟอร์/เครื่องขยายเสียง อินเทอร์เฟซการวัดสัญญาณ และโมดูลพารามิเตอร์ที่ปรับได้ โดยมีสภาพแวดล้อมการทดสอบที่ได้มาตรฐานสำหรับการวิจัยและพัฒนา IC, การเลือกคริสตัล และการตรวจสอบนาฬิการะบบ

    การออกแบบบอร์ดทดสอบ Crystal Source ดั้งเดิมของ IC ถูกนำมาใช้กันอย่างแพร่หลายในการพัฒนาชิป ระบบการสื่อสาร ระบบฝังตัว โมดูล RF และการออกแบบระบบนาฬิกาที่มีความแม่นยำสูง- ทำให้เป็นเครื่องมือทางวิศวกรรมที่จำเป็นในขั้นตอนการตรวจสอบการออกแบบทางอิเล็กทรอนิกส์

     

    คุณสมบัติผลิตภัณฑ์

     

    • ความสามารถในการทดสอบและวิเคราะห์สัญญาณคริสตัลที่มีความแม่นยำสูง-
    • รองรับความเข้ากันได้ของคริสตัลความถี่หลาย- (การขยาย kHz – MHz – GHz)
    • สัญญาณรบกวนเฟสต่ำและการรับสัญญาณกระวนกระวายใจต่ำ
    • ความจุโหลดที่ปรับได้และการออกแบบเครือข่ายที่ตรงกัน
    • รองรับมาตรฐานอินเทอร์เฟซอินพุตนาฬิกา IC หลายแบบ
    • การออกแบบการแยกพลังงานที่เสถียรและ-ป้องกันการรบกวน
    • โครงสร้างแบบโมดูลาร์สำหรับการเปลี่ยนการกำหนดค่าการทดสอบอย่างรวดเร็ว
    • เหมาะสำหรับการตรวจสอบ R&D และสภาพแวดล้อมในห้องปฏิบัติการ

    -TS1657014902

    พื้นที่ใช้งาน

     

    • การออกแบบ IC และการตรวจสอบ
    • การทดสอบคริสตัลออสซิลเลเตอร์
    • การตรวจสอบแหล่งที่มาของนาฬิกา
    • การพัฒนาระบบสมองกลฝังตัว
    • การทดสอบชิปการสื่อสาร
    • ระบบคลื่นความถี่วิทยุและไมโครเวฟ
    • การวิจัยและพัฒนาเครื่องใช้ไฟฟ้า
    • ระบบจับเวลาอิเล็กทรอนิกส์ยานยนต์
    • ระบบควบคุมอุตสาหกรรม

    -INT11657014902

     

    ข้อมูลจำเพาะของผลิตภัณฑ์ (ตัวอย่าง)

     

    รายการ

    ข้อมูลจำเพาะ

    ประเภทพื้นผิว

    FR4 / วัสดุความถี่สูง- (ไม่บังคับ)

    ช่วงความถี่การทำงาน

    32.768 kHz – 200 MHz (ขยายได้)

    โหลดความจุช่วง

    1 pF – 50 pF (ปรับได้)

    ประเภทสัญญาณเอาท์พุต

    CMOS / LVDS / คลื่นไซน์

    แรงดันไฟฟ้าของแหล่งจ่ายไฟ

    1.8V / 2.5V / 3.3V / 5V

    ทดสอบอินเทอร์เฟซ

    SMA / ส่วนหัวของหมุด / บอร์ด-ถึง-บอร์ด

    สัญญาณรบกวนเฟส

    -120 dBc / Hz @ 10 kHz (ทั่วไป)

    อุณหภูมิในการทำงาน

    -40 องศา ~ 85 องศา

    การควบคุมความต้านทาน

    50Ω / ปรับแต่งได้

     

    ข้อดีของผลิตภัณฑ์ (เมื่อเปรียบเทียบกับวิธีการทดสอบแบบดั้งเดิม)

     

    รายการ

    บอร์ดทดสอบแหล่งคริสตัล IC

    การทดสอบแบบไม่ต่อเนื่องแบบดั้งเดิม

    ความแม่นยำในการทดสอบ

    ⭐⭐⭐⭐⭐

    ⭐⭐⭐

    ความเสถียรของสัญญาณ

    ⭐⭐⭐⭐⭐

    ⭐⭐⭐

    ประสิทธิภาพการทดสอบ

    ⭐⭐⭐⭐⭐

    ⭐⭐

    การทำซ้ำ

    ⭐⭐⭐⭐⭐

    ⭐⭐

    บูรณาการระบบ

    ⭐⭐⭐⭐⭐

    ⭐⭐

    แก้จุดบกพร่องความยืดหยุ่น

    ⭐⭐⭐⭐

    ⭐⭐⭐

    การสนับสนุนระบบอัตโนมัติ

    ⭐⭐⭐⭐

    ⭐⭐

     

    สรุปข้อดีที่สำคัญ

     

    • ให้แพลตฟอร์มตรวจสอบสัญญาณคริสตัลที่มีความแม่นยำสูง-
    • ปรับปรุงความน่าเชื่อถือในการออกแบบนาฬิกา IC ได้อย่างมีประสิทธิภาพ
    • รองรับการทดสอบความเข้ากันได้ของคริสตัลและอินเทอร์เฟซ IC หลายตัว
    • ลดเวลาและต้นทุนในการดีบัก R&D
    • ปรับปรุงความเสถียรของความถี่ของระบบและความสามารถในการ-ป้องกันการรบกวน
    • เหมาะสำหรับการพัฒนาและการตรวจสอบแหล่งที่มาของนาฬิกาในสถานการณ์ต่างๆ-
    • รองรับการออกแบบวงจรทดสอบแบบกำหนดเอง
    • ปรับปรุงประสิทธิภาพการตรวจสอบการออกแบบชิปโดยรวม
    -A11657014903

    หลัง-การขายและการสนับสนุนทางเทคนิค

     

    • การออกแบบวงจรคริสตัลและการเพิ่มประสิทธิภาพการสนับสนุน
    • การวิเคราะห์ความสมบูรณ์ของสัญญาณ (SI) ความเร็วสูง
    • โซลูชันการทดสอบที่กำหนดเองและการออกแบบสถาปัตยกรรมระบบ
    • ความสามารถในการผลิต DFM/DFT และการวิเคราะห์ความสามารถในการทดสอบ
    • การสร้างต้นแบบอย่างรวดเร็วและการสนับสนุน-การผลิตจำนวนน้อย
    • บริการทดสอบความเสถียรและความน่าเชื่อถือของความถี่
    • การจัดส่งทั่วโลกและการสนับสนุนด้านเทคนิคทางวิศวกรรม

    -A1657014903

    ป้ายกำกับยอดนิยม: การออกแบบบอร์ดทดสอบแหล่งคริสตัลดั้งเดิมของ ic ประเทศจีนผู้ผลิตบอร์ดทดสอบแหล่งคริสตัลดั้งเดิมของ ic ซัพพลายเออร์โรงงาน, การออกแบบเมนบอร์ดคอมพิวเตอร์, เครื่องมือออกแบบ PCB ของ Mentor, แผ่นรองเครื่องมือออกแบบ PCB, การออกแบบโครงการพลังงานแสงอาทิตย์, ฮาร์ดแวร์อัจฉริยะและอินเทอร์เน็ตของสรรพสิ่ง, ฮาร์ดแวร์อัจฉริยะล็อต

(0/10)

clearall